德国FISCHER测厚仪 电磁感应/袖珍式涂层测厚仪 :德国FISCHER公司作为***大涂镀层测厚仪及材料分析仪生产厂商之一，在积累了长达60多年客户服务经验的基础上，Fischer测厚仪对目前存在的几乎每一种涂镀层应用都能提供良好的解决方案。FISCHER公司提供了多种不同的便携式仪器，可以满足每个客户的需。 遵循DIN EN ISO 2360和ASTM B244标准中的涡流法，测量非铁金属上的不导电层厚度。一个特殊的应用就是测量铜上的薄铬层厚度。Elster气相色谱分析仪
德国FISCHER测厚仪 台式涂层测厚仪
德国FISCHER测厚仪 台式涂层测厚仪
德国菲希尔公司主要产品有：Fischer涡流测厚仪；电磁感应测厚仪；库仑测厚仪；X射线测厚仪；β射线测厚仪；线路板金属化孔测试仪；以及电导率、铁素体含量材料分析仪和表面微硬度测试仪等。
德国菲希尔DUALSCOPE FMP40涂层测厚仪是一款操作简便的镀层厚度测量和灵活的数据采集设备。DUALSCOPE FMP40膜厚仪存储容量多达1,000数据组的10,000个测量数据，带动态存储分配能力。100个测量应用的内存可用于存储校准和相关的测量数据。Fischer DUALSCOPE FMP40涂层测厚仪使用Fischer的智慧型测量探头ED10，FMP40膜厚仪会自动检测出基体的材料并应用合适的测试方法：涡流法或电磁感应法 。能自动识别不同的探头。应用程式特定的校准参数储存在测量探头中，因此仪器一旦连接了任何探头都能立即进行测量。Fischer DUALSCOPE FMP40涂层测厚仪采用根据DIN EN ISO 2360，ASTM B244标准的电涡流方法和DIN EN ISO 2178，ASTM B499电磁感应方法。理想的适合于测量：
非铁金属镀层（例如：铬，铜，锌等）在铁或钢上。
油漆、腊克和合成涂层在在铁或钢上。
非导电涂层在非铁金属基材上，例如油漆、腊克和合成涂层在铝、铜、黄铜、锌和不锈钢上。
铝的阳*氧化层。
一步测量钢材上镀锌再镀油漆的镀层系统（双镀层）中各自的厚度。
德国Fischer DUALSCOPE FMP40膜厚计配备有一个独特的和便于读取的60 x 30 mm （2.4' x 1.2'）液晶显示器。大量显示的信息使得操作异常简便，包括单个测量读数，测量次数，应用程式号，组号，统计数据，Cp和 Cpk，产品规格限制超出，日期，时间，以及显示操作模式和设置的图标和符号，2行文本各16个字母或可自由选择的符号以用于显示数据和操作员提示。其它特性还包括RS232双向通讯的打印机和PC电脑的连接，声音提示信号，电池或交流供电，以及节电的测量后4分钟自动关机。
德国FISCHER测厚仪 袖珍式涂层测厚仪
德国FISCHER测厚仪 袖珍式涂层测厚仪
Fischer DELTASCOPE FMP10涂层测厚仪采用根据DIN EN ISO 2178, ASTM B499标准的电磁感应方法。Fischer DELTASCOPE FMP10涂层测厚仪适用于测量：非铁金属镀层（例如：铬，铜，锌等）在钢和铁上，油漆，腊克和合成涂层在钢和铁上德国菲希尔DELTASCOPE FMP10测厚仪在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的情况下。配有不同种类的探头以适应各种应用情况。探头自动识别。德国FISCHER DELTASCOPE FMP10膜厚仪应用程式特定的校准参数储存在测量探头中，因此仪器一旦连接了任何探头都能立即进行测量。
Fischer DELTASCOPE FMP10涂层测厚仪配备有一个独特的和便于读取的 60 x 30 mm (2.4' x 1.2'))液晶显示器。大量显示的信息使得操作异常简便，包括单个测量读数，测量次数，以及显示操作模式和设置的图标和符号，2行文本各16个字母或可自由选择的符号用于显示数据和操作员提示 HELMUT FISCHER公司提供了多种不同的便携式仪器，可以满足每个客户的需求。
涂层测厚仪DELTASCOPE FMP10遵循DIN EN ISO 2178和ASTM B499标准中的磁感应方法，测量钢上的非铁金属镀层（例如，铬，铜，锌等）和塑料涂层。
德国Fischer ISOSCOPE FMP30膜厚仪具有打印柱状图，正态分布图表，以及Cp和 Cpk指标的功能。自动的求平均功能降低了测量数据范围内的表面粗糙度影响。探头自动识别。应用程式特定的校准参数储存在测量探头中，因此仪器一旦连接了任何探头都能立即进行测量。FISCHER ISOSCOPE FMP30涂层测厚仪功能特点：ISOSCOPE FMP30膜厚计具有打印柱状图，正态分布图表，以及Cp和 Cpk指标的功能。自动的求平均功能降低了测量数据范围内的表面粗糙度影响。探头自动识别。应用程式特定的校准参数储存在测量探头中，因此仪器一旦连接了任何探头都能立即进行测量。FISCHER ISOSCOPE FMP30涂层测厚仪采用根据DIN EN ISO 2360, ASTM B244标准的电涡流方法，适用于测量非导电涂层在非铁金属基材上，例如：油漆、腊克和合成涂层在铝、铜、黄铜、锌和不锈钢上，铝的阳*氧化层（非铁基材）。
FISCHER ISOSCOPE FMP30涂层测厚仪适合于需要一款独立的电涡流仪器带全部测量数据存储，输出和打印功能的使用者。能存储多达100个应用程式中1,000个数据组中的10,000个测量数据。FISCHER ISOSCOPE FMP30涂层测厚仪配备有一个独特的和便于读取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶显示器。大量显示的信息使得操作异常简便，包括单个测量读数，测量次数，应用程式号，组号，统计数据，Cp和 Cpk，产品规格限制超出，日期，时间，以及显示操作模式和设置的图标和符号，2行文本各16个字母或可自由选择的符号以用于显示数据和操作员提示。
德国FISCHER测厚仪 袖珍式涂层测厚仪
德国FISCHER测厚仪 袖珍式涂层测厚仪
袖珍式涂镀层测厚仪袖珍式仪器，简便、快速、无损地在几乎所有金属上或只在铁/钢上测量涂层厚度
Fischer袖珍式涂镀层测厚仪产品特点
§ 仪器集成了探头，便于操作
§ 出色的重复精度
§ 受基材透磁率、电导率和几何形状（曲率和厚度等）影响小
§ 享有**的电导率补偿技术（电涡流方法）
§ 快速的单手操作：将仪器放置于工件上即可看到测量读数
§ 两个背光液晶显示屏，便于从各个角度读取测量值，甚至可从仪器顶部读取读数
§ 耐用的探头和坚固的外壳
§ 记录测量值时可以发出声音和视觉的信号
典型应用领域
§ 油漆，例如汽车车身上的油漆
§ 防腐蚀镀层
§ 建筑物维护
Fischer主要产品系列和型号：PERMASCOPE® MP0、DUALSCOPE® MP0、PERMASCOPE® MP0R、ISOSCOPE® MP0R、DUALSCOPE® MP0R、PERMASCOPE® MP0R-FP、DUALSCOPE® MP0R-FP、DUALSCOPE® MP0RH-FP
台式设备，用于通常的涂层厚度测量和材料：FISCHERSCOPE® MMS® PC2
软件：FISCHER DataCenter用于评估和保存测量值的软件，用于确保质量的检测图软件
手持式涂镀层测厚仪
标准手持设备，用于对几乎所有金属上的涂层进行非破坏性厚度测量
DELTASCOPE® FMP10、ISOSCOPE® FMP10、DUALSCOPE® FMP20、DELTASCOPE® FMP30、ISOSCOPE® FMP30、DUALSCOPE® FMP40、DUALSCOPE® FMP100、DUALSCOPE® FMP150
PHASCOPE® PMP10
PHASCOPE® PMP10 DUPLEX
高精度探头
备件：校准器标准，三角架，试样支架等
ISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射线荧光测量系统整体方案
FISCHERSCOPE® XUL®
稳定和低成本的X射线荧光测量仪，用于非破坏性的金属分析和涂层厚度测量
FISCHERSCOPE® XULM®
X射线荧光测量仪，用于对小部件进行非破坏性的材料分析和涂镀层厚度测量
FISCHERSCOPE® XAN® 120
X 射线荧光测试仪，用于快速、非破坏性的对黄金和银合金进行分析
FISCHERSCOPE® XAN® 220
用于快速无损分析黄金和银合金的 X 射线荧光测量设备
FISCHERSCOPE® XAN® 250
满足无损材料分析和涂层厚度测量*高要求的通用型X射线荧光测量设备
FISCHERSCOPE® XDL®
X 射线荧光测量仪，用于对功能性涂层、防腐蚀涂层和批量生产的零件进行手动或自动涂层厚度测
FISCHERSCOPE® XDLM®
X射线荧光测试仪，用于对电路板、电子元件和批量零件的涂层厚度进行手动或自动测量，也适用于小型结构
FISCHERSCOPE® XDAL®
X 射线荧光测量仪带有可编程的 X/Y台和Z轴，用于自动测量涂镀层厚度和材料分析
FISCHERSCOPE® XDV®-SDD
满足高要求的 X 射线荧光测试仪，带有可编程的 X/Y 工作台和 Z 轴，用于自动测量*薄的涂层和进行印痕分析
FISCHERSCOPE® XDV®-µ
带有毛细管X 光透镜的 X 射线荧光测量仪，用于在小零件和结构上自动测量并分析涂层厚度及涂层成分
FISCHERSCOPE® XUV® 773
X 射线荧光测试仪带有真空室，通用型**设备测量具有**的测量能力
FISCHERSCOPE® X-RAY-4000
X 射线荧光测量系统，用于在光滑的和压印的（包括带有铸模接触面）带钢生产工艺中进行连续的在线测量和分析
FISCHERSCOPE® X-RAY-5000
X 射线荧光测量系统，用于在生产工艺中对较薄的镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe 进行连续的在线测量和分析
校准标准
校准标准 FISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射线荧光测量系统的软件
WinFTM® 软件®
适用于所有 FISCHERSCOPE® X-RAY 型X 射线荧光测量系统的软件
备件
X-RAY 产品备件
用于库仑电量分析的涂层厚
度测量设备
COULOSCOPE® CMS
台式设备，用于金属或非金属基材、单层和多涂层系统上所有金属涂层的库仑电量涂镀层厚度测量
COULOSCOPE® CMS STEP
台式设备，用于对金属或非金属基材上几乎所有金属涂层的厚度进行库仑电量测量，可以测量单层和多层系统和多层系统的
