RSF Elektronik公司作为****的公司在电子线性编码器的领域之一,提供广泛的产品组合,其中包括几乎所有的市场需要。此外,RSFElektronik公司开发定制的电缆系统*多样化的应用和行业,为了保证公司的高品质标准,有完善的质量保证和环境管理 - 根据DIN EN ISO9001和DIN EN ISO 14001认证 - 安装。
产品范围:Rsf-Elektronik编码器,Rsf-Elektronik直线光栅,Rsf-Elektronik直线光栅尺,Rsf-Elektronik探针,Rsf-Elektronik指示器等.
奥地利RSF ELEKTRONIK编码器RSFElektronik公司创建于1973年,公司位于奥地利萨尔茨保附近的Georgen。自创立伊始,公司始终致力开发和生产直线光栅尺、旋转编码器和数显装置。今天,我们的产品已受到**各地市场的认可,公司员工数量也发展到100多人。为适应业务发展要求,RSFElektronik公司迁入面积更大的生产基地。1978年,公司迁至现址。今天,增量式直线光栅尺已成为我公司旗舰产品。光电测量系统中的*重要部件是高精度玻璃及/或钢带光栅尺。“SENTOP”品牌的光栅尺是RSFElektronik公司通过薄膜技术制造的高精度光栅尺。2002年,具有***新技术的超净生产厂投入生产。公司产品质量、产品性能和环境管理全部符合DINENISO9001和DINENISO14001标准要求。
RSF主要产品:
长度测量:
敞开式直线光栅尺
MS 14 Series、MS 15 Series、MS 2x Series、MS 3x Series、MS 45 Series、MS 82 Series
密封线性编码器
MSA 7xx Series、MSA 8xx Series、MSA 4xx Series、MSA 5xx Series、MSA 170 Series、MSA 37x Series、MSA 65x Series、MSA 35x Series
测量探头
Measuring Probe DIT 10、Measuring Probe DIT 30、Measuring Probe DIT 48
角度测量
万向旋转编码器内置轴承和轴
DG 116、DG 117、DG 117D、DG 118、DG 119、DG 119D、DG 120、DG 121、DG 150、DG 151
旋转编码器无内置轴承
MSR 20 MKS、MSR 40 MKS、MSR 40 MER、MSR 40 MOR
测量读数
PC接口卡
IFC 430 Module、UFC 430 Module
精密光栅
线性刻度、圆形刻度
系统解决方案
2轴电缆拖链、电缆拖链、电缆线束、电缆风能、电缆旋转编码器、智能接口、带状电缆、数据电缆
产品介绍
系统分辨率:5.0~10.0微米
大的横截面轮廓
自导版本
刻度单元:玻璃
光栅间距:100微米
配件DA400气压单元:
随着DA400过剩压力在密封线性编码器产生,可抵消油雾或润滑剂的进入
详细参数
型号:MSA 370.63 P
BG4351444641
安装版本
MSA373:集成导轨系统和90°安装
MSA374:集成导轨系统
MSA375:集成导轨系统
MS 45
概况
平面型
系统分辨率: 10 µm - 0.5 µm
读数头的3色LED信号灯直接显示信号质量
安装简单,不需要其它测试盒
安装容易,允许的安装公差大
抗污染能力强,因为使用大面积单场扫描原理
输出信号:TTL,正弦1 Vpp
信号对时效和温度变化不敏感
运动速度快: 15 m/s
参考点(双方向运动精度高和重复精度高)
读数头内有细分电路:*大细分倍数100(正交前)
*大测量长度: 30 000 mm
型号 | 输出信号 | 分辨率 | 细分倍频 | 刻线间距 | *大运行速度 | *大输出频率 | *小边缘间距 amin |
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MS 45 1 Vpp | ∿ 1 Vpp | 决定于外部细分电路 | -- | 200 µm | 15 m/s | 75 KHz | -- |
MS 45 TTLx5 | TTL | 10 µm | 5倍频 | 200 µm | 10 m/s | -- | 500 ns |
MS 45 TTLx10 | TTL | 5 µm | 10倍频 | 200 µm | 9,6 m/s | -- | 500 ns |
MS 45 TTLx50 | TTL | 1 µm | 50倍频 | 200 µm | 4,8 m/s | -- | 200 ns |
MS 45 TTLx100 | TTL | 0,5 µm | 100倍频 | 200 µm | 2,4 m/s | -- | 200 ns |
尽管RSF的开放式光栅尺具有较大的安装公差, 但是我们仍然建议对输出信号和零点信号进行检测。这两个信号可以通过集成在测量头上的LED 或者示波器对信号特性进行定量检测,但是这样都相对需要较多的设备和检测时间。